Abstracts

Der Test von Embedded Firmware ist zu kompliziert. Enorme Ressourcen werden für einen Systemtest aufgewendet, der zu wenige Fehler entdeckt.
Systemtests müssen nahezu immer manuell angepasst werden und sind daher nur bedingt mit einer Remote Arbeitsweise kompatibel.

Für Embedded Firmware ist der korrekte Umgang mit Mikrocontroller Peripherie (GPIO, CAN, ...) essentiell. Dazu werden Treiber programmiert. Open Loop Tests können diese Treiber im Detail prüfen.

Open Loop ist ein Begriff aus der Regelungstechnik. In der Regelungstechnik beeinflusst man einen Prozess so, dass ein gewünschter Zustand erreicht wird. Closed -Loop Regler messen kontinuierlich den Ausgang. Aus der Abweichung zwischen Soll - und Ist-Zustand wird ein Stelleingriff berechnet. Open-Loop Regler steuern „blind“ einen Prozess, sie sind also nichtvom aktuellen Systemzustand abhängig. Das vereinfacht die Handhabung.

Embedded Systeme werden üblicherweise in einer Art getestet, die mit Closed -Loop Reglern vergleichbar ist. Mit Open-Loop Prinzipien kann die Komplexität im Testen dramatisch reduziert werden. Tests werden kompakt und verständlich. Die Testschnittstelle liegt auf Pin-Ebene des Mikrocontrollers. Daher muss der Testaufbau für einen spezifischen Mikrocontroller nach dem ersten Aufbau nicht angepasst werden und kann remote bedient werden.

Der Vortrag wird zunächst den Stand der Technik im Testen vom Embedded Systemen beschreiben. Dann wird der Zusammenhang mit Closed-Loop Systemen verdeutlicht. Anschließend wird mit Open-Loop Prinzipien eine alternative Herangehensweise entwickelt.