Prof. Dr. Hans-Georg Hopf,
Georg-Simon-Ohm Fachhochschule

SW-Reliability - Grundlagen und Berechnung

Ist unser Produkt schon zuverlässig genug, um an den Kunden ausgeliefert zu werden? Wie lange muss noch getestet werden? Wie viele Fehler sind noch zu erwarten? Um solche Fragen beantworten zu können, benötigt das Testmanagement Verfahren zur Prognose der Software-Zuverlässigkeit (SW-Reliability). Der Vortrag gibt eine Einführung zur Software-Zuverlässigkeitstheorie und stellt ein geeignetes, grafisch unterstütztes Verfahren vor, anhand dessen das Testmanagement aus den im Test gewonnenen Daten (z.B. Fehlerrate, Fehler-Korrekturrate) eine Prognose über die Zuverlässigkeit eines Software-Produktes ableiten kann. 

Prof. Dr. Hans-Georg Hopf, Georg-Simon-Ohm Fachhochschule
Nach der Promotion begann Prof. Hopf seine berufliche Laufbahn bei der Philips Kommunikations Industrie und arbeitete in den Bereichen Kommunikationsprotokolle, Fehlertoleranz und Zuverlässigkeitsmodellierung. Seit 1989 ist er Professor im Fachbereich Nachrichten- und Feinwerktechnik der Georg-Simon-Ohm Fachhochschule Nürnberg. Seine Hauptarbeitsgebiete sind Softwareengineering, Softwarequalität und Zuverlässigkeitsmodellierung.